Número de Producto del Fabricante:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74ABT18652PM-DG
Descripción:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Descripción Detallada:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventario:
1545477
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ENVIAR
SN74ABT18652PM Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
Tray
Serie
74ABT
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
18
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
64-LQFP
Paquete de dispositivos del proveedor
64-LQFP (10x10)
Número de producto base
74ABT18652
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
160
Otros nombres
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
3 (168 Hours)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
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