Número de Producto del Fabricante:
SN74LVTH182646APM
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74LVTH182646APM-DG
Descripción:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Descripción Detallada:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventario:
1752530
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ENVIAR
SN74LVTH182646APM Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
Tray
Serie
74LVTH
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Voltaje de alimentación
2.7V ~ 3.6V
Número de bits
18
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
64-LQFP
Paquete de dispositivos del proveedor
64-LQFP (10x10)
Número de producto base
74LVTH182646
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
160
Otros nombres
74LVTH182646APMG4
2156-SN74LVTH182646APM
TEXTISSN74LVTH182646APM
74LVTH182646APMG4-DG
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
3 (168 Hours)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
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