SN74LVTH182646APM
Número de Producto del Fabricante:

SN74LVTH182646APM

Product Overview

Fabricante:

Texas Instruments

Número de pieza:

SN74LVTH182646APM-DG

Descripción:

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Descripción Detallada:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)

Inventario:

1752530
Solicitar Cotización
Cantidad
Mínimo 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) es obligatorio
Te responderemos en un plazo de 24 horas
ENVIAR

SN74LVTH182646APM Especificaciones Técnicas

Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
Tray
Serie
74LVTH
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Voltaje de alimentación
2.7V ~ 3.6V
Número de bits
18
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
64-LQFP
Paquete de dispositivos del proveedor
64-LQFP (10x10)
Número de producto base
74LVTH182646

Hoja de Datos y Documentos

Información Adicional

Paquete Estándar
160
Otros nombres
74LVTH182646APMG4
2156-SN74LVTH182646APM
TEXTISSN74LVTH182646APM
74LVTH182646APMG4-DG

Clasificación Ambiental y de Exportación

Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
3 (168 Hours)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
Productos relacionados
texas-instruments

SN74SSTV32852GKFR

IC BUFFER 24BIT-48BIT 114LFBGA

texas-instruments

SN74S1052NSR

IC 16-BIT BUS TERM ARRAY20SO

texas-instruments

SN74S1050D

IC12-BIT BUS TERM ARRAY 16-SOIC

texas-instruments

SN74SSTV16859RGQR

IC REG BUFFER 13-26BIT 56-VQFN