Número de Producto del Fabricante:
SNJ54BCT8373AFK
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SNJ54BCT8373AFK-DG
Descripción:
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 28-LCCC (11.43x11.43)
Inventario:
11227662
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ENVIAR
SNJ54BCT8373AFK Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
-
Serie
54BCT
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Latches
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
-55°C ~ 125°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
28-CLCC
Paquete de dispositivos del proveedor
28-LCCC (11.43x11.43)
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Hoja de datos HTML
Información Adicional
Paquete Estándar
1
Otros nombres
296-SNJ54BCT8373AFK
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
Not Applicable
Certificación DIGI
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